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Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

  • 更新時間:2024-08-20
  • 瀏覽次數:1064

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀
型號:SURTRONIC DUO
探頭系統:探頭系統
表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長:0.8 mm

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森產地類別進口
應用領域化工,電子,交通,航天,汽車

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO,具有內部進料單元的移動粗糙度測量裝置,小巧便攜,通用功能,用戶友好的界面,適合地板等表面粗糙度測量。



篤摯儀器(上海)有限公司介紹

銷售機電產品、機械設備、自動化設備、環保設備、電線電纜、汽摩配件、建材、金屬材料及制品、五金交電、儀器儀表、通訊產品及器材、辦公用品、計算機軟硬件及輔助設備(除計算機信息系統安全產品)、橡塑制品,商務信息咨詢,投資管理,機電設備維修,計算機、機械設備專業領域內的技術咨詢、技術服務。


Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

型號:SURTRONIC DUO
探頭系統:探頭系統
表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長:0.8 mm
數據傳輸類型:USB



Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

應用:
用戶友好的移動粗糙度測量裝置,用于參數Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的標準粗糙度測量。

執行:
3.7“彩色液晶顯示屏,zui多顯示4個測量值
拆分顯示和進紙單元
兩臺機器之間的藍牙連接(zui大距離2米)
粗糙度參數符合DIN ISO和ASME標準
顯示主要輪廓/參數Pa,Pz,Pp,Pv和Pt
集成滑蓋式探頭,金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電

優點:
InstantOn,從待機模式到測量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀,無需培訓
測量值保存到下次測量為止
電池壽命每次充電可達3000次測量






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