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泰勒霍布森智能小型粗糙度儀Surtronic Duo 泰勒霍布森的Surtronic Duo與HSE滑差評估工具（SAT）一起廣泛使用，用于評估滑倒事故風險的軟件。由于“遙控”操作，理想地適合地板測量，新型Surtronic Duo使用熟悉的智能手機技術來提高性能： ※Surtronic Duo使用的藍牙技術在測量頭和遙控器之間進行快速，可靠的通信 - 操作人員可以將測量頭放在地板部分進行

AMETEK Taylor Hobson Surtronic DUO粗糙度儀質量控制 精密金屬加工市場和涉及高容差工程產品制造商的其他行業計量系統制造商。 系統包括廣泛的圓度和幾何測量儀器，用于測量圓度，直線度，平行度，圓柱度，同心度和方形度。 表面處理，表格和輪廓分析儀，三維表面紋理分析和便攜式粗糙度測試儀，用于測量多個表面紋理參數。

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀 型號：SURTRONIC DUO 探頭系統：探頭系統 表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm 掃描路徑：5mm 表面粗糙度分辨率：0.01μm 閾值波長：0.8 mm

Surtronic DUO 英國Taylor粗糙度儀如何工作 Surtronic Duo是便攜式的 測量表面粗糙度測試儀 多個粗糙度參數與1按鈕 單擊。 粗糙度測量參數 例如Ra，Rz，Rp，Rv和Rt 一個明亮的直觀2.4“LCD彩色顯示屏。 其可充電電池操作使其成為一個 方便快捷，方便快捷 幾乎的現場測量 任何環境和表面。

泰勒霍布森超精密粗糙度儀Surtronic DUO 泰勒霍布森是一家超精密技術公司，在表面和表面計量領域以Z高的精度進行操作。為范圍內Z苛刻的應用提供和非接觸式測量解決方案，并提供基礎設施，以支持泰勒的客戶，無論他們在哪里。 為了留在我們的領域，我們在研發方面投入巨資，并擁有廣泛的知識產權組合（IP），作為和知識產品，不斷擴大。

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀 型號：SURTRONIC DUO 探頭系統：探頭系統 表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm 掃描路徑：5mm 表面粗糙度分辨率：0.01μm 閾值波長：0.8 mm